第239章 揭穿你的水平
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华清大学5号科研楼保密会议室内,何旭明看着面前坐着的三位专家,李耀华和贺云水他都认识,倒是有一个年轻人戴着口罩,只能看出眉眼,他不认识。
但是这小子竟然能坐在这里,显然不是秘书之类的角色,因为会议秘书都坐在右侧一边。
由于这次汇报的重要程度,能进入保密会议室的除了会议秘书和一名记录人员之外,这三个人都坐在左边,显然都是专家。
他有点好奇这个年轻人的身份,但贺云水率先开了口:
“何教授,请你开始吧!”
何旭明只好从第一页开始解释道:“当前,除了在军用领域上面临昂贵的PME MLCC问题,每个汽车、手机需要成千上万了mlcc电容,而全球运营商期待从2G时代跨步,进一步迈向更加繁荣的3G时代。
所以,克服IC、IT基础设施中电容器硬件产品缺失,广泛使用更廉价的BME MLCC就有很大的经济效益
同时,经过我们团队预测,随着时间的推移。
如果未来二十年内,薄层BME MLCC能彻底成为高可靠性应用MLCC的选择,特别是取代PME MLCC,能满足全球军事和航空航天行业不断发展的需求,将会使我国在这一领域取得突破进展,占据世界一流。
在4G甚至未来可能的5G时代,就可以掌握了更为先进的技术.......
李耀华打断了他的发言,“这些背景东西就不要讲了,何教授,请你解释一下你的团队是如何克服BME MLCC的是不可靠问题?”
何旭明略有迟疑,“其不可靠是因为失效,具体机理是,我们的产品在高温高压下,产品中的固有缺陷被提早激发,这样,内部的机理就从束缚态转变为活跃态。
在电场作用下,这些缺陷定向移动到阴极,形成泄漏电流勒,随着时间的推移,最终导致产品热烧毁(具体理论可称为齐纳击穿),我们采用的方法是通过增加束缚,这样,可以有效的提高了我们产品的可靠性。”
李耀华直接打断他的发言;
“02年的时候,漂亮国NASA国家航空航天局戈达德太空飞行中心已经提出了可靠性要求,要求必须长期满足高质量和高安全标准,确保产品百分之一百的可靠性!你用什么方法保证测试的?”
何旭明就答:“我,出了常规的halt方法,我使用的是利用PA 计测量弛豫缺陷,这样就
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